Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) JCM 6000 Plus NeoScope



Описание
Документация

JCM 6000 Plus NeoScope – настольный сканирующий электронный микроскоп  (СЭМ) от Nikon. Является совместной разработкой с компанией Jeol.

Ключевые особенности:

  • Сенсорный экран и простой, удобный интерфейс
  • Быстрая подготовка к работе
  • Легкое получение изображений
  • Получение изображений с помощью вторичных и отраженных электронов
  • Увеличение от 10х до 60000х
  • Режимы высокого и низкого вакуума в базовой комплектации
  • EDS для определения элементного анализа
  • Элементный анализ
  • Вращающийся держатель образцов

Технические характеристики:

  • Режим визуализации: Вторичные электроны (SE) / Отраженные электроны (BSE)
  • Увеличение: SE 10x – 60000x / BSE 10x – 30000x
  • Ускоряющие напряжение: SE: 5, 10, 15 кэВ / BE: 10, 15 кэВ
  • Объектив: Электромагнитные линзы
  • Предметный столик: Ручное перемещение по осям X 35 мм, Y 35 мм
  • Максимальный размер образца: Ø70 мм, высота 50 мм
  • Формат файлов: BMP, TIFF или JPEG
  • Вакуумирование: Полностью автоматическое
  • Наклоняемый и вращаемый держатель образцов (Наклон: от -15° до +45°, вращение: 360°): опция
  • Элементный анализ: опция (EDS)
  • Вес: Основной блок ~50 кг / Помпа ~9 кг / Блок питания ~10 кг
  • Размеры: 325 мм (ширина) х 490 мм (глубина) х 300 мм (высота)

Дополнительная информация на сайте производителя: 
https://www.nikonmetrology.com/en-gb/product/jcm-6000-plus-neoscope